2BWOS-TXES26B4CBLAElectronic Shelf Label

I lntellobots (lnteUobota TechnolOCI• Private limited) Al• loT Solutions for Intelligent Operations Date: 30/07/2026 Plot No. 68 & 69, Beverly Hills, Jubilee Hills Hyderabad, Telangana 500081, India Phone: -t-914048212121 I -t-919666468355 Email: [email protected] Justification for Re-Use of Radio Test results We, lntellobots Technologies Pvt Ltd, consider that the conducted signal test data from original wireless module test report BTF260402R00401, provided for ISC-nRF54L Series Module, model ISC-nRF54L 15-A (INDIESEMIC PRIVATE LIMITED) and approved on 2026-04-29 (FCC ID: 2BVP2-NRF54L 15), along with the subsequent system level test reports IN262KZI 001 (Electronic Shelf Label, Model TXES26B4CBLA), can be leveraged based on following rationale: 1. Applicant has integrated radio module according to the integration guidelines of module 2. No changes have been made on radio module 3. Re-test the output power for spot check verification, Radiated spurious emission and re- evaluated RF exposure assessment. Applicant Company name Designation Signature Raj Vihari Vuddatu lntellobots Technologies Pvt Ltd. CEO ~ .. _:'_ - - lntellobots Technologies Pvt. ltd. I Hyderab d T • elangana I lnto@intellobots com I I.AA••·· . • ..... w.intellobots.com

Make Brand Model FCCID : : : : Intellobots ThingsX TXES26B4CBLA 2BWOS-TXES26B4CBLA

Prüfbericht - Produkte Test Report - Products Prüfbericht-Nr.: Test report no.: IN261AA0 001 Auftrags-Nr.: Order no.: 147214033 10 Seite 1 von 4 Page 1 of 4 Kunden-Referenz-Nr.: Client reference no.: 2773432 Auftragsdatum: Order date: 2026-06-09 Auftraggeber: Client: Intellobots Technologies Private Limited Level #2, Plot no, 68 & 69, Beverly Hills, Guttala_Begumpet, Kavuri Hills, Jubilee Hills, Hyderabad, Telangana 500081 Prüfgegenstand: Test item: Electronic Shelf Label Bezeichnung / Typ-Nr.: Identification / Type no.: TXES26B4CBLA Auftrags-Inhalt: Order content: Testing and issue of Test Report Prüfgrundlage: Test specification: FCC Part1 1.1310, KDB 447498 D01 Wareneingangsdatum: Date of sample receipt: 2026-06-10 Prüfmuster-Nr.: Test sample no: A004304687-001 Prüfzeitraum: Testing period: 2026-06-11 - 2026-06-15 Ort der Prüfung: Place of testing: Wireless laboratory, Bangalore Prüflaboratorium: Testing laboratory: TÜV Rheinland (India) Pvt.Ltd., 27/B, 2nd Cross, Electronic City Phase1 Bangalore -560 100, India Prüfergebnis*: Test result*: Pass geprüft von: tested by: genehmigt von: authorized by: Datum: Date: 2026-07-08 Ausstellungsdatum: Issue date: 2026-07-08 Stellung / Position: Darshan D Senior Engineer Stellung / Position: Vinay N Manager Sonstiges / Other: FCC ID: 2BWOS-TXES26B4CBLA Zustand des Prüfgegenstandes bei Anlieferung: Condition of the test item at delivery: Prüfmuster vollständig und unbeschädigt Test item complete and undamaged * Legende: P(ass) = entspricht o.g. Prüfgrundlage(n) F(ail) = entspricht nicht o.g. Prüfgrundlage(n) N/A = nicht anwendbar N/T = nicht getestet * Legend: P(ass) = passed a.m. test specification(s) F(ail) = failed a.m. test specification(s) N/A = not applicable N/T = not tested Dieser Prüfbericht bezieht sich nur auf das o.g. Prüfmuster und darf ohne Genehmigung der Prüfstelle nicht auszugsweise vervielfältigt werden. Dieser Bericht berechtigt nicht zur Verwendung eines Prüfzeichens. This test report only relates to the above mentioned test sample. Without permission of the test center this test report is not permitted to be duplicated in extracts. This test report does not entitle to carry any test mark. TÜV Rheinland (India) Pvt. Ltd. # 27/B, 2nd Cross Road, Electronics City Phase 1, Bangalore – 560 100, INDIA. Mail: [email protected] ∙ Web: www.ind.tuv.com V101023IMEASR Produkte Products www.tuv.com Prüfbericht - Nr.: Test Report No.: IN261AA0 001 Seite 2 von 4 Page 2 of 4 1 Alle eingesetzten Prüfmittel waren zum angegebenen Prüfzeitraum gemäß eines festgelegten Kalibrierungsprogramms unseres Prüfhauses kalibriert. Sie entsprechen den in den Prüfprogrammen hinterlegten Anforderungen. Die Rückverfolgbarkeit der eingesetzten Prüfmittel ist durch die Einhaltung der Regelungen unseres Managementsystems gegeben. Detaillierte Informationen bezüglich Prüfkonditionen, Prüfequipment und Messunsicherheiten sind im Prüflabor vorhanden und können auf Wunsch bereitgestellt werden. The equipment used during the specified testing period was calibrated according to our test laboratory calibration program. The equipment fulfils the requirements included in the relevant standards. The traceability of the test equipment used is ensured by compliance with the regulations of our management system. Detailed information regarding test conditions, equipment and measurement uncertainty is available in the test laboratory and could be provided on request. 2 Wie vertraglich vereinbart, wurde dieses Dokument nur digital unterzeichnet. Der TÜV Rheinland hat nicht überprüft, welche rechtlichen oder sonstigen diesbezüglichen Anforderungen für dieses Dokument gelten. Diese Überprüfung liegt in der Verantwortung des Benutzers dieses Dokuments. Auf Verlangen des Kunden kann der TÜV Rheinland die Gültigkeit der digitalen Signatur durch ein gesondertes Dokument bestätigen. Diese Anfrage ist an unseren Vertrieb zu richten. Eine Umweltgebühr für einen solchen zusätzlichen Service wird erhoben. Informationen zur Verifizierung der Authentizität unserer Dokumente erhalten Sie auf folgender Webseite: go.tuv.com/digital-signature As contractually agreed, this document has been signed digitally only. TUV Rheinland has not verified and unable to verify which legal or other pertaining requirements are applicable for this document. Such verification is within the responsibility of the user of this document. Upon request by its client, TUV Rheinland can confirm the validity of the digital signature by a separate document. Such request shall be addressed to our Sales department. An environmental fee for such additional service will be charged. For information on verifying the authenticity of our documents, please visit the following website: go.tuv.com/digital-signature 3 Prüfklausel mit der Note * wurden an qualifizierte Unterauftragnehmer vergeben und sind unter der jeweiligen Prüfklausel des Berichts beschrieben. Abweichungen von Prüfspezifikation(en) oder Kundenanforderungen sind in der jeweiligen Prüfklausel im Bericht aufgeführt. Test clauses with remark of * are subcontracted to qualified subcontractors and descripted under the respective test clause in the report. Deviations of testing specification(s) or customer requirements are listed in specific test clause in the report. Produkte Products www.tuv.com Prüfbericht - Nr.: Test Report No.: IN261AA0 001 Seite 3 von 4 Page 3 of 4 4 Die Entscheidungsregel für Konformitätserklärungen basierend auf numerischen Messergebnisen in diesem Prüfbericht basiert auf der "Null-Grenzwert-Regel" und der "Einfachen Akzeptanz" gemäß ILAC G8:2019 und IEC Guide 115:2023, es sei denn, in der auf Seite 1 dieses Berichts genannten angewandten Norm ist etwas anderes festgelegt oder vom Kunden gewünscht. Dies bedeutet, dass die Messunsicherheit nicht berücksichtigt wird und daher auch nicht im Prüfbericht angegeben wird. Zu weiteren Informationen bezüglich des Risikos durch diese Entscheidungsregel siehe ILAC G8:2019. The decision rule for statements of c…

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Prüfbericht - Produkte Test Report - Products Prüfbericht-Nr.: Test report no.: IN262KZI 001 Auftrags-Nr.: Order no.: 147214033 10 Seite 1 von 36 Page 1 of 36 Kunden-Referenz-Nr.: Client reference no.: 2773432 Auftragsdatum: Order date: 2026-06-09 Auftraggeber: Client: Intellobots Technologies Private Limited Level #2, Plot no, 68 & 69, Beverly Hills, Guttala_Begumpet, Kavuri Hills, Jubilee Hills, Hyderabad, Telangana 500081 Prüfgegenstand: Test item: Electronic Shelf Label Bezeichnung / Typ-Nr.: Identification / Type no.: TXES26B4CBLA Serial Number : EN0010000012 Auftrags-Inhalt: Order content: Testing and issue of Test Report Prüfgrundlage: Test specification: FCC Part15 SubpartC 15.247; 15.205; 15.207; 15.209 RSS Gen Issue 5; RSS 247 Issue 4 Wareneingangsdatum: Date of sample receipt: 2026-06-10 Prüfmuster-Nr.: Test sample no: A004304687-001 Prüfzeitraum: Testing period: 2026-06-11 - 2026-06-15 Ort der Prüfung: Place of testing: Wireless laboratory, Bangalore Prüflaboratorium: Testing laboratory: TÜV Rheinland (India) Pvt.Ltd., 27/B, 2nd Cross, Electronic City Phase1 Bangalore -560 100, India Prüfergebnis*: Test result*: Pass geprüft von: tested by: genehmigt von: authorized by: Datum: Date: 2026-07-08 Ausstellungsdatum: Issue date: 2026-07-08 Stellung / Position: Darshan D Senior Engineer Stellung / Position: Vinay N Manager Sonstiges / Other: FCC ID: 2BWOS-TXES26B4CBLA Zustand des Prüfgegenstandes bei Anlieferung: Condition of the test item at delivery: Prüfmuster vollständig und unbeschädigt Test item complete and undamaged * Legende: P(ass) = entspricht o.g. Prüfgrundlage(n) F(ail) = entspricht nicht o.g. Prüfgrundlage(n) N/A = nicht anwendbar N/T = nicht getestet * Legend: P(ass) = passed a.m. test specification(s) F(ail) = failed a.m. test specification(s) N/A = not applicable N/T = not tested Dieser Prüfbericht bezieht sich nur auf das o.g. Prüfmuster und darf ohne Genehmigung der Prüfstelle nicht auszugsweise vervielfältigt werden. Dieser Bericht berechtigt nicht zur Verwendung eines Prüfzeichens. This test report only relates to the above mentioned test sample. Without permission of the test center this test report is not permitted to be duplicated in extracts. This test report does not entitle to carry any test mark. TÜV Rheinland (India) Pvt. Ltd. # 27/B, 2nd Cross Road, Electronics City Phase 1, Bangalore – 560 100, INDIA. Mail: [email protected] ∙ Web: www.ind.tuv.com V101023IMEASR Produkte Products www.tuv.com Prüfbericht - Nr.: Test Report No.: IN262KZI 001 Seite 2 von 36 Page 2 of 36 1 Alle eingesetzten Prüfmittel waren zum angegebenen Prüfzeitraum gemäß eines festgelegten Kalibrierungsprogramms unseres Prüfhauses kalibriert. Sie entsprechen den in den Prüfprogrammen hinterlegten Anforderungen. Die Rückverfolgbarkeit der eingesetzten Prüfmittel ist durch die Einhaltung der Regelungen unseres Managementsystems gegeben. Detaillierte Informationen bezüglich Prüfkonditionen, Prüfequipment und Messunsicherheiten sind im Prüflabor vorhanden und können auf Wunsch bereitgestellt werden. The equipment used during the specified testing period was calibrated according to our test laboratory calibration program. The equipment fulfils the requirements included in the relevant standards. The traceability of the test equipment used is ensured by compliance with the regulations of our management system. Detailed information regarding test conditions, equipment and measurement uncertainty is available in the test laboratory and could be provided on request. 2 Wie vertraglich vereinbart, wurde dieses Dokument nur digital unterzeichnet. Der TÜV Rheinland hat nicht überprüft, welche rechtlichen oder sonstigen diesbezüglichen Anforderungen für dieses Dokument gelten. Diese Überprüfung liegt in der Verantwortung des Benutzers dieses Dokuments. Auf Verlangen des Kunden kann der TÜV Rheinland die Gültigkeit der digitalen Signatur durch ein gesondertes Dokument bestätigen. Diese Anfrage ist an unseren Vertrieb zu richten. Eine Umweltgebühr für einen solchen zusätzlichen Service wird erhoben. Informationen zur Verifizierung der Authentizität unserer Dokumente erhalten Sie auf folgender Webseite: go.tuv.com/digital-signature As contractually agreed, this document has been signed digitally only. TUV Rheinland has not verified and unable to verify which legal or other pertaining requirements are applicable for this document. Such verification is within the responsibility of the user of this document. Upon request by its client, TUV Rheinland can confirm the validity of the digital signature by a separate document. Such request shall be addressed to our Sales department. An environmental fee for such additional service will be charged. For information on verifying the authenticity of our documents, please visit the following website: go.tuv.com/digital-signature 3 Prüfklausel mit der Note * wurden an qualifizierte Unterauftragnehmer vergeben und sind unter der jeweiligen Prüfklausel des Berichts beschrieben. Abweichungen von Prüfspezifikation(en) oder Kundenanforderungen sind in der jeweiligen Prüfklausel im Bericht aufgeführt. Test clauses with remark of * are subcontracted to qualified subcontractors and descripted under the respective test clause in the report. Deviations of testing specification(s) or customer requirements are listed in specific test clause in the report. Produkte Products www.tuv.com Prüfbericht - Nr.: Test Report No.: IN262KZI 001 Seite 3 von 36 Page 3 of 36 4 Die Entscheidungsregel für Konformitätserklärungen basierend auf numerischen Messergebnisen in diesem Prüfbericht basiert auf der "Null-Grenzwert-Regel" und der "Einfachen Akzeptanz" gemäß ILAC G8:2019 und IEC Guide 115:2023, es sei denn, in der auf Seite 1 dieses Berichts genannten angewandten Norm ist etwas anderes festgelegt oder vom Kunden gewünscht. Dies bedeutet, dass die Messunsicherheit nicht berücksichtigt wird und daher auch nicht im Prüfbericht angegeben wird. Zu weiteren Informationen bezüglich des Risikos du…

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TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page1of32 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-0755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 RFTestReport For Applicantname:INDIESEMICPRIVATELIMITED Address: A-1101,B-1101,TheFirst,B/HKeshavbaugPartyPlot,Vastrapur, Ahmedabad,Ahmedabad,Gujarat,380015 EUTname:ISC-nRF54LSeriesModule Brandname:Indiesemic Modelnumber:ISC-nRF54L15-A Seriesmodelnumber:Refertosection2 FCCID:2BVP2-NRF54L15 IssuedBy Companyname:BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Address: Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark, TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Reportnumber:BTF260402R00401 Teststandards:47CFRPart15.247 Testconclusion:Pass Dateofsamplereceipt:2026-04-02 Testdate:2026-04-02to2026-04-09 Dateofissue:2026-04-29 Testby: Sean.He/Tester Preparedby:Approvedby: Chris.Liu/ProjectengineerRyan.CJ/EMCManager Note:Allthetestresultsinthisreportonlyrelatedtothetestingsamples.Whichcanbeduplicatedcompletelyforthelegalusewithapprovalof applicant;itshallnotbereproducedexceptinfullwithoutthewrittenapprovalofBTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd.,Alltheobjectionsshouldbe raisedwithinthirtydaysfromthedateofissue.Tovalidatethereport,youcancontactus. ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page2of32 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-0755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 RevisionHistory VersionIssueDateRevisionsContent R_V02026-04-29Original Note: Oncetherevisionhasbeenmade,thenpreviousversionsreportsareinvalid. ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page3of32 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-0755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 TableofContents 1Introduction........................................................................................................................................................4 1.1LaboratoryLocation...................................................................................................................................4 1.2LaboratoryFacility......................................................................................................................................4 1.3Announcement...........................................................................................................................................4 2ProductInformation...........................................................................................................................................5 2.1ApplicationInformation..............................................................................................................................5 2.2ManufacturerInformation...........................................................................................................................5 2.3FactoryInformation....................................................................................................................................5 2.4GeneralDescriptionofEquipmentunderTest(EUT)................................................................................5 2.5TechnicalInformation.................................................................................................................................6 3SummaryofTestResults..................................................................................................................................7 3.1TestStandards...........................................................................................................................................7 3.2UncertaintyofTest.....................................................................................................................................7 3.3SummaryofTestResult.............................................................................................................................7 3.4Additionsto,deviations,orexclusionsfromthemethod...........................................................................8 4TestConfiguration..............................................................................................................................................9 4.1TestEquipmentList....................................................................................................................................9 4.2TestAuxiliaryEquipment..........................................................................................................................10 4.3TestModes...............................................................................................................................................10 4.4TestChannelofEUT................................................................................................................................10 4.5Testsoftware............................................................................................................................................11 5EvaluationResults(Evaluation).....................................................................................................................12 5.1Antennarequirement...............................................................................................................................12 5.1.1Conclusion...................................................................................................................................12 6RadioSpectrumMatterTestResults(RF)..................…

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ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page1of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 Appendix-BLE 1.DutyCycle 1.1TestResult 1.1.1Ant1 Ant1 Mode TX Type Frequency (MHz) T_on (ms) Period (ms) DutyCycle (%) DutyCycle CorrectionFactor(dB) Max.DC Variation(%) 1MSISO 24022.1122.32890.720.420.03 24402.1122.32890.720.420.03 24802.1122.32890.720.420.00 2MSISO 24021.0661.16891.270.400.03 24401.0661.16891.270.400.03 24801.0671.16891.350.390.00 ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page2of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 1.2TestGraph 1.2.1Ant1 1M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV 1M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page3of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 1M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV 2M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page4of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV 2M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page5of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2.Bandwidth 2.1TestResult 2.1.1OBW Mode TX Type Frequency (MHz) ANT 99%OccupiedBandwidth(MHz) Verdict ResultLimit 1MSISO 240211.078/Pass 244011.074/Pass 248011.076/Pass 2MSISO 240212.132/Pass 244012.137/Pass 248012.135/Pass 2.1.26dBBW Mode TX Type Frequency (MHz) ANT 6dBBandwidth(MHz) Verdict ResultLimit 1MSISO 240210.702>=0.5Pass 244010.704>=0.5Pass 248010.699>=0.5Pass 2MSISO 240211.226>=0.5Pass 244011.145>=0.5Pass 248011.226>=0.5Pass ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page6of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2.2TestGraph 2.2.1OBW 1M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV 1M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page7of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 1M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV 2M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page8of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV 2M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page9of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2.2.26dBBW 1M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV 1M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page10of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 1M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV 2M_LCH_2402MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page11of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 2M_MCH_2440MHz_Ant1_NTNV 2M_HCH_2480MHz_Ant1_NTNV ReportNumber:BTF260402R00401 TotalorpartialreproductionofthisdocumentwithoutpermissionoftheLaboratoryisnotallowed.Page12of38 BTFTestingLab(Shenzhen)Co.,Ltd. Plant101,201and301,Building1,Block2,TantouIndustrialPark,TantouCommunity,SonggangStreet,Bao'anDistrict,Shenzhen, Guangdong,China Email:[email protected]:+86-755-23146130http://www.btf-lab.comVersion:1/00 3.MaximumConductedOutputPower 3.1TestResult 3.1.1Power Mode TX Type Frequency (MHz) MaximumPeakConductedOutputPower(dBm) Verdict ANT1Limit 1MSISO 24026.25<=30Pass 24406.44<=30Pass 24806.49<=30Pass 2MSISO 24026.41<=30Pass 24406.58<=30Pass 24806.59<=30Pass Note1:AntennaGain:Ant1:-2.20dBi; ReportNumber:BTF260402R00401 Totalorpartialreproductionofthisdocume…

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Antenna Tuning & Optimization Test Report Version: 1.0 Report No:SER0001-003 Document Classification: External Antenna Tuning & Optimization Report Preface This measurement report includes Antenna return loss, matching circuits and radiation pattern data information with best performance achieved using antenna optimization as per the requirement from the customer. Privacy Information This Report shall not be reproduced except in full without the written approval of the Avartanam Test Labs LLP. Only the test(s) asked by the customer has been carried out and particular tests are performed on the DUT’s only whose serial no is given by the customer for that test. Any anomaly/discrepancy in this test report/certificate should be brought to our notice within 45 days from the date of issue. Testing has been done in environmental conditions as specified by the standard. Report Prepared by NamePositionSignatureDate Varun Parmar RF Engineer 17/06/2025 Report Verified by NamePositionSignatureDate Sagar MistryTechnical Manager 19/06/2025 Copyright © 2025 Avartanam Test labs LLP All rights reserved. Page 2 of 20 Antenna Tuning & Optimization Report Table of Contents 1 General Information............................................................................................................................4 1.1 DUT Description.........................................................................................................................4 1.1.1 DUT Photograph..................................................................................................................5 1.2 Test Instrument Details................................................................................................................6 1.3 Testing Location...........................................................................................................................6 2 Antenna Tuning & Optimization...........................................................................................................7 2.1 Introduction..................................................................................................................................7 2.2 Test Setup Image.........................................................................................................................7 2.2.1 Measurement Point on DUT for Optimization......................................................................8 2.3 Test Conditions............................................................................................................................9 2.4 Measurement Uncertainty...........................................................................................................9 2.5 Test Results...............................................................................................................................10 2.5.1 Summary............................................................................................................................10 2.5.2 Antenna Matching Components List..................................................................................10 2.5.3 Test Plot..............................................................................................................................11 3 Radiation Pattern & Gain Measurement...........................................................................................12 3.1 Introduction................................................................................................................................12 3.2 Test Setup Image.......................................................................................................................12 3.3 Test Conditions..........................................................................................................................13 3.4 Measurement Uncertainty.........................................................................................................13 3.5 DUT Orientation in Three Planes..............................................................................................14 3.6 Measurement Representation...................................................................................................15 3.7 Test Results...............................................................................................................................16 3.7.1 Summary............................................................................................................................16 3.7.2 Gain Graphical Plots..........................................................................................................17 3.7.2.1 …

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